性能優勢

科研級CMOS檢（jiǎn）測器，全元（yuán）素分析，開創PPM級元素分析新（xīn）紀元

噪聲低 科研級感光元（yuán）件噪聲小，抗幹擾強，具備防光暈技術

抗幹擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引（yǐn）入噪聲

讀取速度（dù）快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像素信號單獨讀取，實現參數優化設計

紫外（wài）響應高 超高（gāo）紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優

經典（diǎn）雙光室設計，光譜範圍寬，元素分辨率有保證

獨立設計的（de）紫外光（guāng）學係統，激發台直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設計，刻線數多，分辨率高，兼顧（gù）高分辨和譜線範圍優（yōu）勢，譜線（xiàn）範圍（wéi）寬，分析元素多，性（xìng）能好

單（dān）獨（dú）設計的紫外光學係統，體積小，結構簡單，無死角，采用多孔吹（chuī）掃技術，可將空氣迅速吹掃（sǎo）幹淨，確保元素分析效果

穩定性升級，重新定（dìng）義光學產品穩（wěn）定性

壓（yā）鑄鋁合金整（zhěng）體光室，4級消除應（yīng）力處理

光室恒溫設計，保證光譜位置長（zhǎng）期穩定，不漂移

氣流路（lù）的精確設計（jì），一切為了結果更穩定

RTMC光譜優化技術，帶來更（gèng）穩定的體驗

全數字脈衝（chōng）光源，自動選擇能量保證分（fèn）析的準確性與重（chóng）複性

易用性升級（jí），給用戶更簡單的使用體驗

優質硬件與特定算法的結合，多重穩定保障，更好地監控（kòng）儀器（qì）運行狀態，提（tí）升分析效果，減少校準頻率

支持（chí）全譜分析檢測，拓展（zhǎn）性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件，通過軟件即可擴展分析範（fàn）圍，使用更靈活

智能（néng）曲線（xiàn）功能可滿足對所有材料的分（fèn）析需求，真正實現未知樣（yàng）品分析，無需糾結模型選擇，操作更加簡便（biàn）

友好的人機（jī）交（jiāo）互設計，軟件主界麵簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學會並熟練操作（zuò）軟件（jiàn）

新增遠程維護功（gōng）能，可（kě）遠程升級固件（jiàn）程（chéng）序，遠程檢查儀器狀態，對（duì）儀器生（shēng）命周期健康負責

應（yīng）用領域（yù）

應用（yòng）於冶金、鑄造、機械加工、鑄造、金屬（shǔ）材料科（kē）研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三方檢測（cè）等諸多領域。