性能優勢

科研級CMOS檢（jiǎn）測器（qì），全元素分析，開創PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小，抗幹擾強（qiáng），具備防光暈技術

抗幹擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部（bù）電路引入噪聲

讀取速度（dù）快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技（jì）術，像素信號單獨讀取，實現參數優化設計

紫外響應高 超高（gāo）紫外響應靈敏度（dù），無需鍍膜（mó），實現非金屬元素（N，C，S，P）分析，效果更優（yōu）

獨特的（de）密封氬氣循環係統

光室（shì）密封（fēng）性佳，可（kě）保持內（nèi）部氬氣長期純淨

分析環境相當於真空光室10-3Pa，優化了短（duǎn）波元素的分析性能

氬氣循環過濾裝置，可有（yǒu）效濾除空氣分（fèn）子，提高光（guāng）室的可靠性

光室內外（wài）壓力差幾乎為零，可有效避免大氣壓力（lì）引起的光（guāng）學係統漂移進而提（tí）高產品的長（zhǎng）期穩定性

降低（dī）充氬係統的氬氣（qì）消耗，有效節約生產成本

穩定性升級，重新定義光學產（chǎn）品穩定性（xìng）

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理

光室恒溫設計，保證光譜位置長期穩定，不漂（piāo）移

氣流路的精（jīng）確設計，一切為了結果更穩（wěn）定

RTMC光譜優化技術（shù），帶來更穩定的體驗

全數字脈衝光源，自動選擇能量保證分析的準確性與重複性

高性能，提升適用性

方（fāng）便（biàn）的樣品激發台（tái）

開放式激（jī）發台，內部體積進一（yī）步縮小，氬氣消耗大大（dà）降低

四路氬氣吹掃，有效清除（chú）殘留粉塵，降低激發台（tái）維護量（liàng）

個（gè）性化的的樣品夾具

可適用於分析各類大小形狀的樣品

人性化的一鍵（jiàn）式（shì）激發/停止按鈕

樣品裝載激發一氣嗬成，無需軟件操作，直接得到數據結果

檢測時間大大縮短，有效提升工作效率

易用性升級，給用戶更簡單使用（yòng）體驗

優（yōu）質硬件與特定算法的結（jié）合，多重穩定保障，更好地監（jiān）控儀器運行狀態，提升（shēng）分析效果，減少校準頻率

支持全譜分析檢測，拓展性更高。增加分析基體和元素無需增（zēng）加硬件，通過軟件即可擴展分（fèn）析範圍，使用更靈活

智能曲線功（gōng）能可滿（mǎn）足對所有材料的分析（xī）需求，真正實（shí）現未知樣品分析，無需糾（jiū）結模型選擇，操作更加簡便

友好的人機交互設計，軟件主（zhǔ）界麵簡潔清晰，圖形化顯示，短時間即可學會並（bìng）熟練（liàn）操作軟（ruǎn）件

新增遠程維護功能，可遠程升級固件程序，遠程檢查儀器狀態，對儀器生命周期健康負責 

應用領域

應用於冶金（jīn）、鑄造、機械加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天（tiān）、造船（chuán）、汽車、海關檢驗（yàn）、第三方檢測等諸多領域。